Medir con confiabilidad
11 junio – 13:00 – 19:30 UTC-3
11, 18 y 25 jun
3 sesiones
19,5 horas totales
Online en vivo
En todos los Sistemas de Gestión de Calidad se hace necesario evaluar, analizar y mejorar los procesos, productos y servicios. Esto implica muchas veces, tomar acciones y decisiones debidamente argumentadas, con hechos comprobables.
De esta forma las técnicas estadísticas constituyen una herramienta esencial para el manejo de los Sistemas de Gestión, planificar, controlar y mejorar los procesos del mismo.
El nuevo milenio presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al software, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es común hablar de unidades de almacenamiento de Terabytes.
El campo de la metrología científica está en el descubrimiento del patrón electrónico para la masa, utilizando el número de Avogadro (6,025 ·10-24) o la balanza de watt, ampliará la exactitud de las mediciones. Próximamente se verá un lunar en el rostro de una jovencita y esto podrá ser un ipod, dado el alto desarrollo de la nanoelectrónica.
El reciente cambio o actualización del Vocabulario Internacional de Términos básicos y generales en Metrología – VIM, hoy conocido como la Guía ISO/ IEC 99:2008 ha marcado una nueva tendencia de la metrología, que debe ser comprendida por toda la comunidad científica, industrial y legal en el mundo, cada vez más globalizado.
Contenido:
- Curso I: Estadística para la toma de decisiones
- Distribuciones estadísticas
- Gráficos de Control
- Muestreo por atributos
- Curso II: Gestión Metrológica
- Proceso de gestión metrológica
- Calibración, ajuste y verificación
- Trazabilidad metrológica
- Incertidumbre en las mediciones
- Diseño de un programa/plan de confirmación metrológica
- Competencia técnica de los proveedores de ensayos y calibraciones
- Tomar decisiones a partir de la información de desempeño metrológico
